MBE tekniği ile büyütülen GaxIn1-xP/GaAs yapılarının kritik nokta enerjilerinin spektroskopik elipsometre ile incelenmesi
Yazar
EFKERE, Halil İbrahim
KINACI, BARIŞ
PİŞKİN, Emre
MEMMEDLİ, Tofig
ÖZÇELİK, Süleyman
ÇETİN, Saime Şebnem
Üst veri
Tüm öğe kaydını gösterKoleksiyonlar
- Bildiri [64839]