MBE tekniği ile büyütülen GaxIn1-xP/GaAs yapılarının kritik nokta enerjilerinin spektroskopik elipsometre ile incelenmesi

- Türkçe
- English

English
- Türkçe
- English

Login

Home
Avesis
Dokümanı Olmayanlar
Bildiri
View Item

Home
Avesis
Dokümanı Olmayanlar
Bildiri
View Item

JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

MBE tekniği ile büyütülen GaxIn1-xP/GaAs yapılarının kritik nokta enerjilerinin spektroskopik elipsometre ile incelenmesi

Author

EFKERE, Halil İbrahim

KINACI, BARIŞ

PİŞKİN, Emre

MEMMEDLİ, Tofig

ÖZÇELİK, Süleyman

ÇETİN, Saime Şebnem

Metadata

Show full item record

URI

http://hdl.handle.net/20.500.12627/21457

Collections

Bildiri [64839]

İstanbul Üniversitesi Akademik Arşiv Sistemi (ilgili içerikte aksi belirtilmediği sürece) Creative Commons Alıntı-GayriTicari-Türetilemez 4.0 Uluslararası Lisansı ile lisanslanmıştır.

DSpace software copyright © 2002-2016 DuraSpace

Contact Us | Send Feedback

Theme by

Açık Erişim Politikası Veri Giriş Rehberleri İletişim

Search DSpace

This Collection

sherpa/romeo

Dergi Adı/ISSN || Yayıncı

Exact phrase only All keywords Any

BaşlıkbaşlayaniçerenISSN

Browse

All of DSpace Communities & Collections By Issue Date Authors Titles Subjects Types This Collection By Issue Date Authors Titles Subjects Types

My Account

İstanbul Üniversitesi Akademik Arşiv Sistemi (ilgili içerikte aksi belirtilmediği sürece) Creative Commons Alıntı-GayriTicari-Türetilemez 4.0 Uluslararası Lisansı ile lisanslanmıştır.

DSpace software copyright © 2002-2016 DuraSpace

Contact Us | Send Feedback

Theme by