Basit öğe kaydını göster

COMPARISON OF XRF, SEM-EDS AND LA-ICP-MS IN FORENSIC GLASS FRAGMENT ANALYSIS

dc.contributor.authorOzmerinoglu, Yester
dc.contributor.authorCengiz, Salih
dc.date.accessioned2021-03-04T17:54:57Z
dc.date.available2021-03-04T17:54:57Z
dc.identifier.citationOzmerinoglu Y., Cengiz S., "COMPARISON OF XRF, SEM-EDS AND LA-ICP-MS IN FORENSIC GLASS FRAGMENT ANALYSIS", 21st Triennial Meeting of the International-Association-of-Forensic-Sciences (IAFS), Toronto, Kanada, 21 - 25 Ağustos 2017, cilt.277, ss.97
dc.identifier.otherav_87f0bc24-41c2-430d-8998-bd1641c24c24
dc.identifier.othervv_1032021
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/20.500.12627/92289
dc.language.isoeng
dc.subjectSağlık Bilimleri
dc.subjectDahili Tıp Bilimleri
dc.subjectAdli Tıp
dc.subjectKlinik Tıp (MED)
dc.subjectTıp
dc.subjectKlinik Tıp
dc.subjectTIP, YASAL
dc.titleCOMPARISON OF XRF, SEM-EDS AND LA-ICP-MS IN FORENSIC GLASS FRAGMENT ANALYSIS
dc.typeBildiri
dc.contributor.departmentIstanbul Forens Sci Inst , ,
dc.identifier.volume277
dc.contributor.firstauthorID151995


Bu öğenin dosyaları:

DosyalarBoyutBiçimGöster

Bu öğe ile ilişkili dosya yok.

Bu öğe aşağıdaki koleksiyon(lar)da görünmektedir.

Basit öğe kaydını göster