Basit öğe kaydını göster

Temperature Dependence of Electrical Resistivity of Highly Doped Nanocrystalline and Amorphous Silicon Thin Films

dc.contributor.authorGOKIRMAK, ALI
dc.contributor.authorÇİL, Kadir
dc.contributor.authorSILVA, HELENA
dc.contributor.authorBAKAN, GOKHAN
dc.date.accessioned2021-03-04T12:20:43Z
dc.date.available2021-03-04T12:20:43Z
dc.identifier.citationÇİL K., BAKAN G., GOKIRMAK A., SILVA H., "Temperature Dependence of Electrical Resistivity of Highly Doped Nanocrystalline and Amorphous Silicon Thin Films", Materials Research Society (MRS) 2010 Fall Meeting, Boston, Amerika Birleşik Devletleri, 29 Kasım - 03 Aralık 2010, cilt.AA, sa.1765, ss.1765
dc.identifier.othervv_1032021
dc.identifier.otherav_76d0eac0-3033-4790-93f9-b381bfb2875b
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/20.500.12627/81581
dc.identifier.urihttp://www.mrs.org/f10program-aa/
dc.language.isoeng
dc.subjectMühendislik
dc.subjectMühendislik, Bilişim ve Teknoloji (ENG)
dc.subjectMühendislik ve Teknoloji
dc.titleTemperature Dependence of Electrical Resistivity of Highly Doped Nanocrystalline and Amorphous Silicon Thin Films
dc.typeBildiri
dc.contributor.departmentUluslararası Antalya Üniversitesi , ,
dc.identifier.volumeAA
dc.contributor.firstauthorID390196


Bu öğenin dosyaları:

DosyalarBoyutBiçimGöster

Bu öğe ile ilişkili dosya yok.

Bu öğe aşağıdaki koleksiyon(lar)da görünmektedir.

Basit öğe kaydını göster