Basit öğe kaydını göster

CMOS yapılarda yorulma ve ömür kestiriminin istatistiksel olarak incelenmesi

dc.contributor.authorKUNTMAN, AYTEN
dc.contributor.authorKAÇAR, FIRAT
dc.contributor.authorKuntman, Hakan
dc.date.accessioned2021-03-03T17:18:34Z
dc.date.available2021-03-03T17:18:34Z
dc.identifier.citationKAÇAR F., KUNTMAN A., Kuntman H., "CMOS yapılarda yorulma ve ömür kestiriminin istatistiksel olarak incelenmesi", Elektrik-Elektronik-Bilgisayar Müh. 11. Ulusal Kongresi, İstanbul, Türkiye, ss.55-59
dc.identifier.otherav_492035aa-a32c-44d7-963e-ec3ab9e1e46e
dc.identifier.othervv_1032021
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/20.500.12627/52601
dc.language.isotur
dc.subjectMühendislik ve Teknoloji
dc.subjectMühendislik
dc.subjectMühendislik, Bilişim ve Teknoloji (ENG)
dc.titleCMOS yapılarda yorulma ve ömür kestiriminin istatistiksel olarak incelenmesi
dc.typeBildiri
dc.contributor.departmentİstanbul Teknik Üniversitesi , ,
dc.contributor.firstauthorID315059


Bu öğenin dosyaları:

DosyalarBoyutBiçimGöster

Bu öğe ile ilişkili dosya yok.

Bu öğe aşağıdaki koleksiyon(lar)da görünmektedir.

Basit öğe kaydını göster