Basit öğe kaydını göster

Statistical investigation of hot-carrier degradation and lifetime prediction of PMOS transistors

dc.contributor.authorKUNTMAN, AYTEN
dc.contributor.authorKAÇAR, FIRAT
dc.contributor.authorKuntman, Hakan
dc.date.accessioned2021-03-03T11:57:29Z
dc.date.available2021-03-03T11:57:29Z
dc.identifier.citationKAÇAR F., KUNTMAN A., Kuntman H., "Statistical investigation of hot-carrier degradation and lifetime prediction of PMOS transistors", International Conference on Electrical and Electronics, Türkiye, ss.76-80
dc.identifier.otherav_2b122f48-b610-446e-beaf-280059f15bd7
dc.identifier.othervv_1032021
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/20.500.12627/33695
dc.language.isoeng
dc.subjectMühendislik ve Teknoloji
dc.subjectMühendislik
dc.subjectMühendislik, Bilişim ve Teknoloji (ENG)
dc.titleStatistical investigation of hot-carrier degradation and lifetime prediction of PMOS transistors
dc.typeBildiri
dc.contributor.departmentİstanbul Teknik Üniversitesi , ,
dc.contributor.firstauthorID315056


Bu öğenin dosyaları:

DosyalarBoyutBiçimGöster

Bu öğe ile ilişkili dosya yok.

Bu öğe aşağıdaki koleksiyon(lar)da görünmektedir.

Basit öğe kaydını göster