Basit öğe kaydını göster

Statistical Investigation Of Symmetrical CMOS OTA Degradation

dc.contributor.authorKUNTMAN, HAKAN
dc.contributor.authorÖZÇELEP, YASİN
dc.contributor.authorKUNTMAN, AYTEN
dc.date.accessioned2021-03-06T11:57:08Z
dc.date.available2021-03-06T11:57:08Z
dc.date.issued2008
dc.identifier.citationÖZÇELEP Y., KUNTMAN A., KUNTMAN H., "Statistical Investigation Of Symmetrical CMOS OTA Degradation", Istanbul University Journal of Electrical Electronics Engineering (IU-JEEE), cilt.8, ss.549-555, 2008
dc.identifier.othervv_1032021
dc.identifier.otherav_f187491e-019f-4b98-8586-b7e10faed418
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/20.500.12627/158473
dc.identifier.urihttp://journals.istanbul.edu.tr/tr/index.php/elektrikelektronik/article/download/11799/11061
dc.language.isoeng
dc.subjectMühendislik ve Teknoloji
dc.subjectMühendislik, Bilişim ve Teknoloji (ENG)
dc.subjectMühendislik
dc.titleStatistical Investigation Of Symmetrical CMOS OTA Degradation
dc.typeMakale
dc.relation.journalIstanbul University Journal of Electrical Electronics Engineering (IU-JEEE)
dc.contributor.departmentİstanbul Teknik Üniversitesi , ,
dc.identifier.volume8
dc.identifier.issue1
dc.identifier.startpage549
dc.identifier.endpage555
dc.contributor.firstauthorID314999


Bu öğenin dosyaları:

DosyalarBoyutBiçimGöster

Bu öğe ile ilişkili dosya yok.

Bu öğe aşağıdaki koleksiyon(lar)da görünmektedir.

Basit öğe kaydını göster