Basit öğe kaydını göster

Diffraction and XAFS Studies of UHV Evaporated Erbium Thin Films Synchrotron Radiation Daresbury Annual Report

dc.contributor.authorGu, E.
dc.contributor.authorÖNCAN, Nurten
dc.contributor.authorMarr, G.V.
dc.contributor.authorSavaloni, H.
dc.contributor.authorMunro, I.H.
dc.contributor.authorPlayer, M.A.
dc.date.accessioned2021-03-06T09:33:46Z
dc.date.available2021-03-06T09:33:46Z
dc.identifier.citationPlayer M., Marr G., Gu E., Savaloni H., ÖNCAN N., Munro I., "Diffraction and XAFS Studies of UHV Evaporated Erbium Thin Films Synchrotron Radiation Daresbury Annual Report", Scientific Instrumentation, cilt.130, ss.91-92, 1992
dc.identifier.othervv_1032021
dc.identifier.otherav_e61c6114-0c80-45f5-868b-facb5305b655
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/20.500.12627/151378
dc.language.isoeng
dc.subjectTemel Bilimler
dc.subjectFizik
dc.subjectTemel Bilimler (SCI)
dc.titleDiffraction and XAFS Studies of UHV Evaporated Erbium Thin Films Synchrotron Radiation Daresbury Annual Report
dc.typeMakale
dc.relation.journalScientific Instrumentation
dc.contributor.department, ,
dc.identifier.volume130
dc.identifier.startpage91
dc.identifier.endpage92
dc.contributor.firstauthorID278311


Bu öğenin dosyaları:

DosyalarBoyutBiçimGöster

Bu öğe ile ilişkili dosya yok.

Bu öğe aşağıdaki koleksiyon(lar)da görünmektedir.

Basit öğe kaydını göster