Basit öğe kaydını göster

dc.contributor.authorÖZASLAN, Abdi
dc.date.accessioned2021-03-05T15:15:20Z
dc.date.available2021-03-05T15:15:20Z
dc.date.issued2002
dc.identifier.citationÖZASLAN A., "Elektrik Giriş Lezyonlarının Elektron Mikroskopisi (SEM-EDS) ile Tespiti (Olgu Sunumu)", ADLİ TIP DERGİSİ, ss.24-27, 2002
dc.identifier.issn1018-5275
dc.identifier.othervv_1032021
dc.identifier.otherav_bb071919-82d7-4015-b829-21edef682dae
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/20.500.12627/124383
dc.language.isotur
dc.subjectSağlık Bilimleri
dc.subjectKlinik Tıp (MED)
dc.subjectTıp
dc.titleElektrik Giriş Lezyonlarının Elektron Mikroskopisi (SEM-EDS) ile Tespiti (Olgu Sunumu)
dc.typeMakale
dc.relation.journalADLİ TIP DERGİSİ
dc.contributor.departmentİstanbul Üniversitesi , ,
dc.identifier.issue16
dc.identifier.startpage24
dc.identifier.endpage27
dc.contributor.firstauthorID402301


Bu öğenin dosyaları:

DosyalarBoyutBiçimGöster

Bu öğe ile ilişkili dosya yok.

Bu öğe aşağıdaki koleksiyon(lar)da görünmektedir.

Basit öğe kaydını göster