dc.contributor.author | CILINGIROGLU, U | |
dc.date.accessioned | 2021-03-05T14:40:42Z | |
dc.date.available | 2021-03-05T14:40:42Z | |
dc.date.issued | 1985 | |
dc.identifier.citation | CILINGIROGLU U., "A GENERAL-MODEL FOR INTERFACE-TRAP CHARGE-PUMPING EFFECTS IN MOS DEVICES", SOLID-STATE ELECTRONICS, cilt.28, ss.1127-1141, 1985 | |
dc.identifier.issn | 0038-1101 | |
dc.identifier.other | vv_1032021 | |
dc.identifier.other | av_b84d37b9-094e-4bed-acb0-eac54235c60e | |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/20.500.12627/122637 | |
dc.identifier.uri | https://doi.org/10.1016/0038-1101(85)90194-7 | |
dc.language.iso | eng | |
dc.subject | Bilgi Sistemleri, Haberleşme ve Kontrol Mühendisliği | |
dc.subject | Sinyal İşleme | |
dc.subject | Yoğun Madde 1:Yapısal, Mekanik ve Termal Özellikler | |
dc.subject | Temel Bilimler | |
dc.subject | Mühendislik ve Teknoloji | |
dc.subject | Temel Bilimler (SCI) | |
dc.subject | FİZİK, YOĞUN MADDE | |
dc.subject | Fizik | |
dc.subject | FİZİK, UYGULAMALI | |
dc.subject | Mühendislik, Bilişim ve Teknoloji (ENG) | |
dc.subject | Mühendislik | |
dc.subject | MÜHENDİSLİK, ELEKTRİK VE ELEKTRONİK | |
dc.title | A GENERAL-MODEL FOR INTERFACE-TRAP CHARGE-PUMPING EFFECTS IN MOS DEVICES | |
dc.type | Makale | |
dc.relation.journal | SOLID-STATE ELECTRONICS | |
dc.contributor.department | , , | |
dc.identifier.volume | 28 | |
dc.identifier.issue | 11 | |
dc.identifier.startpage | 1127 | |
dc.identifier.endpage | 1141 | |
dc.contributor.firstauthorID | 110661 | |