| dc.contributor.author | ÇEKLİ, SERAP | |
| dc.contributor.author | UZUNOĞLU, CENGİZ POLAT | |
| dc.contributor.author | UĞUR, MUKDEN | |
| dc.date.accessioned | 2021-03-05T11:26:40Z | |
| dc.date.available | 2021-03-05T11:26:40Z | |
| dc.identifier.citation | UZUNOĞLU C. P. , ÇEKLİ S., UĞUR M., "POLI·MERI·K YALITKANLARDAKI· KAOTIK YUZEYSEL IZ OLUŞUMLARININ SAKLI MARKOV MODELLERI· ILE MODELLENMES·", EEE 22. Sinyal İşleme ve İletişimi Uygulamaları Kurultayı, Trabzon, Türkiye, 22 - 25 Nisan 2014, ss.1 | |
| dc.identifier.other | vv_1032021 | |
| dc.identifier.other | av_a8262d9d-f472-466e-91c6-f8749cecc6cf | |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/20.500.12627/112400 | |
| dc.description.abstract | Bu c¸alıs¸mada elektrik endu¨strisinde kullanılan polimerik yalıtkanlardaki kaotik yu¨zeysel as¸ınım s¸ekilleri incelenmis¸ ve modellenmis¸tir. Bu as¸amada, IEC 587 standartlarına uygun olarak egˆik du¨zlem test du¨zenegˆinde yas¸landırılmıs¸ polimerik o¨rnekler kullanılmıs¸tır. Yalıtkan u¨zerinde olus¸an s¸ekiller go¨ru¨ntu¨ is¸leme teknikleri ile temizlenerek karbonize is ve bozulmalardan arındırılmıs¸tır. Polimerik malzemelerin yalıtkanlık o¨zelligˆi c¸es¸itli ic¸ ve dıs¸ etkiler nedeniyle ciddi derecede azalabilir. O¨zellikle harici etkileri inceleyebilmek ic¸in o¨rnekler nem ve titres¸im etkisine maruz bırakılmıs¸tır. Bu o¨rneklerin incelenmesinde kaotik s¸ekilleri analiz etmek ic¸in o¨ne c¸ıkan fraktal boyut kavramı kullanılmıs¸tır. Analiz sonrası bu as¸ınımlar Saklı Markov Modelleri (SMM) ile modellenerek gerc¸ekte olus¸an s¸ekillere benzer s¸ekiller elde edilmis¸ ve ortam s¸artlarının etkisi go¨z o¨nu¨ne alınmıs¸tır. | |
| dc.language.iso | tur | |
| dc.subject | Mühendislik ve Teknoloji | |
| dc.subject | Mühendislik | |
| dc.subject | Mühendislik, Bilişim ve Teknoloji (ENG) | |
| dc.title | POLI·MERI·K YALITKANLARDAKI· KAOTIK YUZEYSEL IZ OLUŞUMLARININ SAKLI MARKOV MODELLERI· ILE MODELLENMES· | |
| dc.type | Bildiri | |
| dc.contributor.department | Maltepe Üniversitesi , , | |
| dc.contributor.firstauthorID | 631961 | |
