In-Situ XRD Measurements and Simulations to Determine Grain Sizes in GeSbTe at Various Annealing Temperatures

Yazar
ADNANE, LHACENE
SILVA, HELENA
GOKIRMAK, ALI
LAM, C. H.
ZHU, YU
DIRISAGLIK, FARUK
Woods, Zachary
CYWAR, ADAM
ÇİL, Kadir
Üst veri
Tüm öğe kaydını göster
Bağlantı
http://hdl.handle.net/20.500.12627/69977
http://www.mrs.org/fall-2015-program-kk/
Koleksiyonlar