Statıstıcal Model of Hot-Carrier Degradation and Lifetime Prediction for P-MOS Transistors

Yazar
Kuntman, Hakan
KAÇAR, FIRAT
KUNTMAN, AYTEN
Üst veri
Tüm öğe kaydını göster
Bağlantı
http://hdl.handle.net/20.500.12627/110654
http://journals.tubitak.gov.tr/elektrik/issues/elk-06-14-3/elk-14-3-4-0606-4.pdf
Koleksiyonlar